Research Institute of Electronics Shizuoka University 3-5-1 Johoku Hamamatsu 432-8011 Japan;
Indian Institute of Technology (IIT) Roorke India;
Faculty of Eng;
Stability analysis; Silicon; Circuit stability; Nanoscale devices; Diamond; Thermal stability; Couplings;
机译:选择性掺杂对Si纳米晶体管中施主诱导的量子点空间分散的影响
机译:单电子晶体管探测的量子霍尔态中量子点的传输性质
机译:具有任意结和栅极电容的单共栅双点单电子晶体管的稳定性图
机译:在选择性掺杂Si纳米级晶体管中具有高偏压稳定性图的供体量子点的影响
机译:耦合施主量子点的硅纳米晶体管中单电子隧穿的表征
机译:基于量子点荧光寿命测量的光子晶体光纤熔融拼接近场纳米探针。
机译:基于量子点晶体管的计数器中的纳米级倾卸桶效应
机译:掺铒量子点和si:O和等离子体共振使能量子点纳米级激光器