Delft Institute of Microsystems and Nanoelectronics (DIMES)rnDelft University of Technology, Feldmannweg 17, 2628CT Delft, The Netherlands;
机译:在Si(001)衬底上通过混合外延生长的松弛SiGe梯度缓冲液上的应变Ge-SiGe异质结构的XRD分析
机译:N-2作为载气:H-2的替代品,可增强Si,SiGe和SiGe的外延:C
机译:反向梯度SiGe缓冲层用于松弛SiGe外延生长的热稳定性
机译:硅和硅锗外延的观点
机译:用于光通信变送器的SiGe BICMOS集成电路=光学通信变送器的SiGe BICMOS集成电路
机译:用于热电应用的高掺杂n型SiGe晶体的压敏液相外延
机译:Si和SiGe外延的观点
机译:si和siGe合金的气源分子束外延中的表面过程(Gas Bron moleculaire Bundel Epitaxie van si en siGe Legeringen中的Oppervlakte processen)