Porous silicon; current density; porosity; thickness; photoluminescence;
机译:p型纳米结构硅中的维氏显微硬度,多孔层厚度和孔隙率之间的相关性
机译:用光声技术测定多孔硅层的厚度和孔隙率
机译:可变角度光谱椭偏仪用于薄多孔硅层的孔隙深度剖析:孔隙度梯度层模型
机译:多孔硅层对光致发光光谱的孔隙率和厚度效应
机译:纳米晶体尺寸和局部环境影响多孔硅分析物的光致发光响应,并研究单层和少层WS2的激光照明和化学蒸汽效应
机译:消灭具有不同孔隙率的双层多孔硅双层膜的所需层中的孔
机译:使用光谱光致发光的微米级空间分辨率对晶体硅进行钝化层的厚度(Solar RRL 11/2017)
机译:多孔硅埋层和表层的孔隙率测定