【24h】

Pulse Height Linearity of CdZnTe

机译:CDZNTE的脉冲高度线性

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摘要

CdZnTe crystals equipped with Frisch collars are studied at the Semiconductor Materials and Radiological Technologies Laboratory (S.M.A.R.T. Lab) at Kansas State University for use as room-temperature, high-resolution, semiconductor gamma-ray detectors. Obtaining plots of Relative Pulse Height vs. Input Photon Energy by testing with monoenergetic radioactive sources yields widely-spaced data points, but a Compton-scattering two-detector system can generate electrons with a range of energies within the crystal being tested, yielding a continuous curve. The linearity of the resulting curve is a limiting factor for the energy resolution of the semiconductor material.
机译:在堪萨斯州立大学的半导体材料和放射技术实验室(S.M.A.R.T.实验室)研究了装备FRISCH项圈的CDZNTE晶体。用作室温,高分辨率,半导体伽马射线探测器。获得相对脉冲高度与单元放射源的输入光子能量的曲线,产生广泛间隔的数据点,但康柏散射双检测器系统可以产生具有在晶体中的一系列能量的电子,产生连续曲线。所得到的曲线的线性度是半导体材料能量分辨率的限制因素。

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