PRAM; GST; FIB; Nano prober; In-situ TEM;
机译:可转换相变随机存取存储线单元的相关透射电子显微镜和电学特性研究
机译:原位 i> TEM访问的基于Ge–Sb–Te的相变随机存取存储设备的微结构相关的DC集开关行为
机译:NiO电阻随机存取存储器中导电丝的原位透射电子显微镜及其分析
机译:使用透射电子显微镜(TEM)相变随机存取存储器(PRAM)的开关机构的原位表征
机译:定量研究射频MEMS开关中使用的镍电沉积层的微观结构和结晶纤维质地,包括一种用于多晶膜的新型透射电子显微镜(TEM)技术
机译:用原位透射电镜研究由氧化钨和铜构成的电阻型随机存取存储器的开关操作和性能下降
机译:基于GE-SB-TE的相变随机存取存储器设备的微结构相关的DC SET切换行为
机译:通过高分辨率原位TEm(透射电子显微镜)和TED(透射电子衍射)对小金属颗粒进行结构表征和气体反应