Stress; Passivation; Delamination; Thermal stresses; Polyimides; Flip-chip devices; Measurement;
机译:倒装芯片封装中超低$ k $互连的结构优化改善了芯片-封装相互作用和可靠性
机译:使用虚拟芯片封装作为参考的倒装芯片封装中焊点的激光超声检查
机译:使用铜柱凸点的倒装芯片尺寸封装的低k层应力的参数研究
机译:倒装芯片Cu柱包装芯片封装相互作用的聚酰亚胺研究
机译:芯片封装相互作用(CPI)及其对倒装芯片封装可靠性的影响。
机译:激光诱导的单芯片倒装芯片封装的正向转移
机译:采用光可定义聚酰亚胺和封装对称性的3D堆叠超薄芯片封装的高产量制造工艺
机译:极端低温(-190摄氏度和-120摄氏度)下高级倒装芯片互连电子封装组件的可靠性评估