TECH Semiconductor Singapore Private Limited, 1 Woodlands Industrial Park D, Street 1, Singapore 738799, Anselm;
MOSFET; hot-carrier effects; interface traps; gated-diode; simulation;
机译:通过栅二极管配置测量的SOI动态阈值电压nMOSFET(n-DTMOSFET)中的热载流子退化行为
机译:MOSFET中的“门控二极管”配置,这是表征热载流子退化的灵敏工具
机译:MOSFET参数提取的正向栅极二极管方法
机译:散装MOSFET中“门控二极管”配置的建模
机译:亚微米SOI和体MOSFET器件的物理建模和表征。
机译:使用特定于解剖结构的MOSFET配置的图像引导IMRT剂量测定
机译:mOsFET中的“栅极二极管”配置,是表征热载流子退化的敏感工具