Department of Physics, University of Port Elizabeth, P.O. Box 1600, Port Elizabeth 6000, South Africa;
defects and impurities: doping, implantation, distribution, concentration, etc.; optical constants (including refractive index, complex dielectric constant, absorption, reflection and transmission coefficients, emissivity); Ⅱ-Ⅵ semiconductors; chemical;
机译:Ⅵ:Ⅱ比对MOCVD生长的ZnO薄膜性能的影响
机译:Ⅵ∶Ⅱ比对MOCVD生长ZnO薄膜性能的影响
机译:MOCVD生长的ZnS,ZnS–ZnO和ZnO薄膜的结构,发射和压电特性
机译:χ:Ⅱ比率对MoCVD-生长ZnO薄膜性能的影响
机译:退火温度对Sol-Gel ZnO薄膜力学性能的影响。
机译:基材工艺条件和生长ZnO薄膜性能的底蛋白温度通过连续的离子层吸附和反应方法
机译:通过热蒸发制备的ZnO薄膜结构和光学性质的厚度影响