首页> 外文会议>2014 7th International Silicon‐Germanium Technology and Device Meeting >Growth and crystalline properties of Ge1#x2212;x#x2212;ySnxCy ternary alloy thin films on Ge(001) substrate
【24h】

Growth and crystalline properties of Ge1#x2212;x#x2212;ySnxCy ternary alloy thin films on Ge(001) substrate

机译:Ge(001)衬底上Ge 1-x-y Sn x C y 三元合金薄膜的生长和晶体性质

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摘要

We achieved the world's first epitaxial growth of a Ge1−x−ySnxCy layer, and investigated the effect of Sn incorporation on the growth of Ge1−xCx. Sn incorporation can decrease the epitaxial temperature of Ge1−xCx layer. Also, Sn incorporation can make C atoms stable at the substitutional site. This Ge1−x−ySnxCy layer is expected to realize the energy band engineering independently on the lattice parameter and promises to extend the potential of group-IV semiconductor materials for nanoelectronics and optoelectronic applications.
机译:我们实现了Ge1-x-ySnxCy层的世界上第一个外延生长,并研究了掺Sn对Ge1-xCx的生长的影响。 Sn的掺入可以降低Ge1-xCx层的外延温度。另外,Sn的掺入可以使C原子在取代位点稳定。该Ge1-x-ySnxCy层有望独立于晶格参数实现能带工程,并有望扩展IV族半导体材料在纳米电子和光电子应用中的潜力。

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