基于灰度差异的粒径测量原理与实验验证

摘要

本文从米散射理论出发，结合PIv成像系统结构模型，推导出了粒子直径与粒子在成像系统上所成像点灰度和的理论关系式，在此基础上，提出了一种基于灰度差异的粒径测量方法，并建立了同一粒子两次曝光的具有灰度差异像点的配对模型以及粒径计算模型。通过标准粒子实验对理论关系式和模型进行了验证．结果表明：在满足清晰成像和避免曝光过度的条件下，理论关系式与实验结果相符;粒子像点配对模型在实际使用时必须设定一个有效误差范围。