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翟成瑞; 李艳;
中国兵工学会;
中国高等教育学会;
SMT焊; 表面封装; 焊点可靠性; 失效模式; 金属间化合物; 有限应变;
机译:在热冲击测试下采用ENIG表面处理的倒装芯片封装中的焊点可靠性
机译:SAC305无铅焊料在不同表面处理中的IMC生长机理及其对FCBGA封装焊点可靠性的影响
机译:在热冲击试验下采用ENIG表面处理的倒装芯片封装中的焊点可靠性
机译:电子封装技术中无铅焊点的可靠性问题
机译:微电子封装中96.5SN-3.5AG焊点的机械和热机械稳定性问题。
机译:电子设备中无铅焊点的可靠性问题
机译:基板表面光洁度对mOs封装中48sN焊点机械可靠性的影响
机译:COTs mEms封装的可靠性问题
机译:增强的晶圆级封装,包括用于降低焊点应力和提高焊点可靠性的核心层
机译:增强的晶圆级封装,包括用于减少焊点应力和提高焊点可靠性的芯层
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