首页> 中文会议>2008年全国博士生学术会议(光学测试新理论、新技术) >子孔径拼接干涉检测非球面技术的研究

子孔径拼接干涉检测非球面技术的研究

摘要

为了无需其它辅助光学元件就能够实现对大口径非球面的测量,提出了子孔径拼接干涉检测方法。对该技术的基本原理和基础理论进行了分析和研究,并基于齐次坐标变换、最小二乘法、以及Zernike多项式拟合建立了综合优化和误差均化的拼接数学模型;开发了子孔径拼接检测非球面算法软件,并进行了计算机模拟和仿真实验;设计和搭建了子孔径拼接干涉检测装置,并利用子孔径拼接实现了对一口径为350mm的双曲面的检测;为了分析和对比,对待测非球面进行零位补偿检测实验,子孔径拼接所得的面形分布和零位补偿检测所得的全口径面形分布都是一致的,其面形误差PV值和RMS值的偏差分别为0.032λ和0.004λ(λ=632.8nm)。从而提供了除零位补偿检测外另一种定量测试非球面尤其是大口径非球面的手段。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号