DC-DC电路电离辐射特性及失效分析

摘要

对DC-DC电路的总剂量辐照特性进行了试验分析，结果发现在辐照过程中，空载辐照时DC-DC电路特征参数(输入电流和输出电压)随辐射总剂量略有增大;满载时DC-DC电路呈现不稳定状态，其特征参数受辐照影响很大，并导致DC-DC电路失效;失效分析发现VDMOS管源漏极之间可能发生熔融，导致DC-DC电路无输出。