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ROBUST MEMBRANE WITH HIGH PERMEABILITY FOR LITHOGRAPHIC EXTREME ULTRAVIOLET SYSTEMS

机译:具有高渗透性的耐渗透性紫外线系统的强大膜

摘要

A robust membrane with high permeability for lithographic EUV systems (EUV: extreme ultraviolet) is disclosed. In one example, the present invention provides a membrane that includes a sheet and a frame that supports the sheet. The film can be produced from a transparent carbon-based layer and / or a transparent silicon-based layer. The transparent carbon-based layer and / or the transparent silicon-based layer can also be coated with a protective cover. The frame may have at least one hole to allow air to flow through a portion of the membrane.
机译:公开了一种具有高渗透性的耐渗透性(EUV:极端紫外线)的强大膜。在一个示例中,本发明提供一种膜,其包括支撑纸张的薄片和框架。该膜可以由透明碳基层和/或透明硅基层制成。透明碳基层和/或透明硅基层也可以用保护盖涂覆。框架可以具有至少一个孔以允许空气流过膜的一部分。

著录项

  • 公开/公告号DE102020115130A1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-05-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO. LTD.;

    申请/专利号DE202010115130

  • 发明设计人 YUN-YUE LIN;

    申请日2020-06-08

  • 分类号G03F1/62;G03F1;G03F7;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-24 18:35:48

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