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GAAS HIGHHLOW TYPE IMPATT DIODE

机译:GAAS高空冲击二极管

摘要

PURPOSE:To stably provide a GaAs Hi-Lo type IMPATT mode diode in high yield by imparting an optinum condition of Hi and Lo region carrier density enabling the high efficiency operation of the diode thereto. CONSTITUTION:An n-type GaAs buffer layer 2, an n-type GaAs Lo region 3, an n-type GaAs Hi region 4 and a p-type GaAs layer 5 are sequentially laminated on an n-type GaAs substrate 1, and an ohmic electrode 6 is formed on the outside thereof to form a pn-junction GaAs Hi-Lo type IMPATT mode diode. Then, the Hi region carrier density NH and Lo region carrier density NL are so defined as to become the conditions specified by the right formula (1) and (2).
机译:目的:通过赋予高和低区域载流子密度最佳条件,使二极管能够高效运行,稳定地高产量提供砷化镓高-低型IMPATT模式二极管。组成:n型GaAs缓冲层2,n型GaAs Lo区域3,n型GaAs Hi区域4和p型GaAs层5依次层叠在n型GaAs衬底1上,欧姆电极6形成在其外部,以形成pn结GaAs Hi-Lo型IMPATT模式二极管。然后,Hi区域载流子密度NH和Lo区域载流子密度NL被定义为成为由正确的公式(1)和(2)指定的条件。

著录项

  • 公开/公告号JPS55141761A

    专利类型

  • 公开/公告日1980-11-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MITSUBISHI ELECTRIC CORP;

    申请/专利号JP19790050392

  • 发明设计人 NISHITANI KAZUO;

    申请日1979-04-23

  • 分类号H01L29/90;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 19:06:55

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