首页> 外国专利> Silicon masking layer system, for producing porous silicon structures useful in optics, chemical sensors and surface micromechanical structures, comprises a silicon dioxide layer, a bond layer and a protective layer

Silicon masking layer system, for producing porous silicon structures useful in optics, chemical sensors and surface micromechanical structures, comprises a silicon dioxide layer, a bond layer and a protective layer

机译:硅掩膜层系统,用于生产可用于光学,化学传感器和表面微机械结构的多孔硅结构,包括二氧化硅层,键合层和保护层

摘要

A silicon masking layer system (20), comprising a silicon dioxide layer (11), a bond layer (12) and a protective layer (13), is new. An Independent claim is also included for production of the above layer system by thermal oxidation of the silicon layer (10) to form the silicon dioxide layer (11) and then depositing the other layers (12, 13) by vapor, sputter or chemical deposition. Preferred Features: The bond layer (12) consists of one or more of tantalum, chromium, gold, titanium, manganese, vanadium, cobalt, nickel, silicon, copper, zinc and molybdenum or their oxides, nitrides or carbides and the protective layer (13) consists of a precious metal, silicon or their oxides, nitrides or carbides.
机译:新型的硅掩膜层系统(20)包括二氧化硅层(11),粘结层(12)和保护层(13)。通过硅层(10)的热氧化以形成二氧化硅层(11),然后通过气相沉积,溅射或化学沉积来沉积其他层(12、13),还包括用于生产上述层系统的独立权利要求。 。首选功能:粘结层(12)由钽,铬,金,钛,锰,钒,钴,镍,硅,铜,锌和钼中的一种或多种或它们的氧化物,氮化物或碳化物组成,保护层( 13)由贵金属,硅或其氧化物,氮化物或碳化物组成。

著录项

  • 公开/公告号DE19842105A1

    专利类型

  • 公开/公告日2000-03-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ROBERT BOSCH GMBH;

    申请/专利号DE1998142105

  • 申请日1998-09-15

  • 分类号C23C28/00;C23C30/00;C25F3/02;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-22 01:42:35

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号