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Alternating phase-shift mask rule compliant IC design

机译:兼容相移掩模规则的IC设计

摘要

A system, method and program product that implement a design object that automatically provides compliance to alternating phase shifted mask (altPSM) rules are disclosed. The invention implements a design object that is used during layout to indicate a phase-shiftable design feature in the layout. Each design object includes a base shape indicative of the feature to be ultimately created and two different type phase shape identifiers that identify the requisite mask area and color of phase-shift required for that base shape. Each phase shape identifier is assigned to a portion of the base shape. During layout, overlapping placement of design objects is not allowed if the placement requires overlapping phase identifiers of the same type. Alternatively, placement is allowed where the phase identifiers of different type are separated by a minimum distance from each other defined by a buffer of the design object.
机译:公开了实现设计对象的系统,方法和程序产品,该设计对象自动提供对交替相移掩模(altPSM)规则的依从性。本发明实现了一种设计对象,该设计对象在布局期间用于指示布局中的可相移设计特征。每个设计对象都包括一个指示最终要创建的特征的基本形状,以及两个不同类型的相位形状标识符,用于标识该基本形状所需的必要掩模区域和相移颜色。每个相位形状标识符都分配给基本形状的一部分。在布局期间,如果布局需要重叠相同类型的相位标识符,则不允许重叠设计对象。可替代地,允许放置不同类型的相位标识符彼此分开最小距离的位置,所述最小距离由设计对象的缓冲器定义。

著录项

  • 公开/公告号US7124396B2

    专利类型

  • 公开/公告日2006-10-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FRANZ X. ZACH;

    申请/专利号US20040708684

  • 发明设计人 FRANZ X. ZACH;

    申请日2004-03-18

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:43:31

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