机译:半导体集成电路系统的设计方法,导体集成电路基板的设计方法,封装体设计方法,导体集成电路的设计方法,导体集成电路系统的设计,导体集成电路系统的设计,导体集成电路系统的设计和半导体集成电路
要解决的问题:提供一种用于设计热特性优异的半导体集成电路系统的方法,通过该方法,即使在使半导体集成电路的电路规模大且集成度高的情况下,也可以以优异的可操作性来设计半导体集成电路。 。解决方案:该用于设计半导体集成电路系统的方法包括:设计封装的第一过程,该封装包括在其中容纳系统的壳体以及在构成该系统的壳体中容纳的安装基板以及安装在安装架上的封装基板。基于系统规格信息的基板;基于在进行所述设计的过程中获得的设计结果,对所述壳体中的安装基板和封装进行热分析的过程;第二种方法是根据进行热分析的过程的分析结果来设计半导体集成电路系统的。期望设计装载在封装上的半导体集成电路,使得可以在第二过程中确定半导体集成电路的元件布置。
版权:(C)2008,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2008102631A
专利类型
公开/公告日2008-05-01
原文格式PDF
申请/专利权人 MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD;
申请/专利号JP20060283098
发明设计人 IWANISHI NOBUFUSA;TOKUNAGA SHINYA;TANAKA HIROYUKI;SUZUKI HIROAKI;SEKO KOICHI;MORIGUCHI WATARU;
申请日2006-10-17
分类号G06F17/50;H01L21/82;H01L23/12;H03K19;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 20:21:13