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Occupancy Based on Pattern Generation Method For Maskless Lithography

机译:基于模式生成方法的无掩模光刻占用

摘要

An occupancy based pattern generation method for a maskless lithography system using micromirrors is disclosed. The present invention includes the steps of recognizing a pattern upon the substrate through the extraction of the pattern boundary and the construction of the pattern region and recognizing the pattern upon the micromirror through the confirmation of the micromirror dependent lithographic pattern region, the extraction of the micromirror dependent pattern based on the occupancy, and the construction of the stream of binary patterns containing binary reflection information for the micromirrors in accordance with the substrate scrolling.
机译:公开了一种使用微镜的用于无掩模光刻系统的基于占用的图案生成方法。本发明包括以下步骤:通过图案边界的提取和图案区域的构造来识别基板上的图案,并且通过确认微镜相关的光刻图案区域来识别微镜上的图案,并提取微镜。基于占用率的非连续图案,以及根据基板滚动,包含微镜的二进制反射信息的二进制图案流的构造。

著录项

  • 公开/公告号US2008313593A1

    专利类型

  • 公开/公告日2008-12-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MAN SEUNG SEO;HAERYUNG KIM;

    申请/专利号US20060095037

  • 发明设计人 HAERYUNG KIM;MAN SEUNG SEO;

    申请日2006-11-02

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 19:33:45

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