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Method for Forming an Independent Bottom Gate Connection For Buried Interconnection Including Bottom Gate of a Planar Double Gate MOSFET

机译:用于包括平面双栅MOSFET的底栅的埋线互连的独立底栅连接的形成方法

摘要

A method is provided for making a semiconductor device, which comprises (a) providing a semiconductor structure comprising a top gate (228) and a bottom gate (240); (b) creating first (251), second and third (252) openings in the semiconductor structure, wherein the first opening exposes a portion of the bottom gate; (c) filling the first, second and third openings with a conductive material, thereby forming source (258) and drain (260) regions in the second and third openings and a conductive region (253) in the first opening; and (d) forming an electrical contact (278) to the conductive region.
机译:提供了一种用于制造半导体器件的方法,该方法包括:(a)提供包括顶栅( 228 )和底栅( 240 )的半导体结构; (b)在半导体结构中形成第一( 251 ),第二和第三( 252 )开口,其中第一开口暴露底栅的一部分; (c)用导电材料填充第一,第二和第三开口,从而在第二和第三开口中形成源极( 258 )和漏极( 260 )区域,第一开口中的导电区域( 253 ); (d)与导电区域形成电接触( 278 )。

著录项

  • 公开/公告号US2011215411A1

    专利类型

  • 公开/公告日2011-09-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 JAY P. JOHN;THUY B. DAO;

    申请/专利号US20100717281

  • 发明设计人 JAY P. JOHN;THUY B. DAO;

    申请日2010-03-04

  • 分类号H01L29/78;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 18:12:57

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