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DISCHARGE SOURCE WITH GAS CURTAIN FOR PROTECTING OPTICS FROM PARTICLES

机译:气体幕帘的放电源,用于保护颗粒中的光学元件

摘要

A gas curtain device is employed to deflect debris that is generated by an extreme ultraviolet and soft x-ray radiation discharge source such as an electric discharge plasma source. The gas curtain device projects a stream of gas over the path of the radiation to deflect debris particles into a direction that is different from that of the path of the radiation. The gas curtain can be employed to prevent debris accumulation on the optics used in photolithography. Preferably, the gas curtain flows at supersonic speeds.
机译:使用气帘装置来偏转由极紫外和软X射线辐射放电源(例如放电等离子体源)产生的碎屑。气幕装置将气体流投射在辐射的路径上,以将碎屑颗粒偏转到与辐射的路径不同的方向。可以使用气幕来防止碎屑堆积在光刻中使用的光学器件上。优选地,气幕以超音速流动。

著录项

  • 公开/公告号EP1428416B1

    专利类型

  • 公开/公告日2011-10-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 EUV LLC;

    申请/专利号EP20020759209

  • 发明设计人 KANOUFF MICHAEL P.;FORNACIARI NEAL R.;

    申请日2002-07-29

  • 分类号H05G2/00;G03F7/20;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 17:59:41

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