机译:包括透射率调节图案的光罩和调节光罩透射率的方法,能够通过将图案的临界尺寸调节为所需的方向来改善临界尺寸的均匀性
公开/公告号KR20110001144A
专利类型
公开/公告日2011-01-06
原文格式PDF
申请/专利权人 HYNIX SEMICONDUCTOR INC.;
申请/专利号KR20090058547
发明设计人 YOU TAE JUN;
申请日2009-06-29
分类号H01L21/027;
国家 KR
入库时间 2022-08-21 17:52:48