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APPARATUS FOR INSPECTION OF A SUBSTRATE, CAPABLE OF MINIMIZING A SETTING TIME IN A FIELD WORK LINE

机译:用于检查底材的装置,该底材能够使现场工作线中的设置时间最小化

摘要

PURPOSE: An apparatus for inspection of a substrate is provided to minimize air loss by arranging a pattern-recessive groove on the bottom of an air exhaust nozzle making up a lifting module.;CONSTITUTION: In an apparatus for inspection of a substrate, a process part(100) having an automatic optics equipment(120) and a lifting module(130) on the top of a first frame(110). A loading part(200) and an un-loading part which have a plurality of lifting modules are arranged on both side of the process part. A transfer unit(150) vacuum-absorbs the substrate putting on the lifting module and transfer it to the processing part and the un-loading part. A height adjusting unit(140), controlling the height of first and second frames, is mounted on the bottom of the first and second frame of the loading part and the un-loading part. Each lifting module are mounted on the top of the first and second frames.;COPYRIGHT KIPO 2011
机译:目的:提供一种用于检查基板的设备,以通过在组成提升模块的排气喷嘴的底部布置图案凹进凹槽来最大程度地减少空气损失。组成:在一种用于检查基板的设备中,一种工艺部件(100)在第一框架(110)的顶部具有自动光学设备(120)和升降模块(130)。在处理部的两侧配置有具有多个升降模块的装载部(200)和卸载部。传送单元(150)对吸收在提升模块上的基板进行真空吸收,并将其传送至处理部分和卸载部分。控制第一框架和第二框架的高度的高度调节单元(140)安装在装载部分和卸载部分的第一框架和第二框架的底部。每个提升模块都安装在第一和第二框架的顶部。; COPYRIGHT KIPO 2011

著录项

  • 公开/公告号KR20110040002A

    专利类型

  • 公开/公告日2011-04-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 REXNIQUE TECHNOLOGY CO. LTD.;JO KYUNG DEOK;

    申请/专利号KR20090097110

  • 发明设计人 JO KYUNG DEOK;

    申请日2009-10-13

  • 分类号H01L21/66;B65G47/29;G02F1/13;H01L21/677;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 17:52:10

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