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Guard ring structures for high voltage CMOS/low voltage CMOS technology using LDMOS (lateral double-diffused metal oxide semiconductor) device fabrication

机译:使用LDMOS(横向双扩散金属氧化物半导体)器件制造的用于高压CMOS /低压CMOS技术的保护环结构

摘要

A semiconductor structure. The semiconductor structure includes a semiconductor substrate, a first transistor on the semiconductor substrate, and a guard ring on the semiconductor substrate. The semiconductor substrate includes a top substrate surface which defines a reference direction perpendicular to the top substrate surface. The guard ring includes a semiconductor material doped with a doping polarity. A first doping profile of a first doped transistor region of the first transistor in the reference direction and a second doping profile of a first doped guard-ring region of the guard ring in the reference direction are essentially a same doping profile. The guard ring forms a closed loop around the first transistor.
机译:半导体结构。半导体结构包括半导体基板,在半导体基板上的第一晶体管以及在半导体基板上的保护环。半导体衬底包括顶部衬底表面,该顶部衬底表面限定垂直于顶部衬底表面的参考方向。保护环包括掺杂有掺杂极性的半导体材料。第一晶体管的在参考方向上的第一掺杂的晶体管区域的第一掺杂轮廓和保护环的在参考方向上的第一掺杂的保护环区域的第二掺杂轮廓基本上是相同的掺杂轮廓。保护环在第一晶体管周围形成闭环。

著录项

  • 公开/公告号US8110853B2

    专利类型

  • 公开/公告日2012-02-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 STEVEN HOWARD VOLDMAN;

    申请/专利号US20090475661

  • 发明设计人 STEVEN HOWARD VOLDMAN;

    申请日2009-06-01

  • 分类号H01L27/085;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 17:25:56

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