机译:接触状态检测装置,接触状态检测方法,用于接触状态检测的计算机程序,具有接触状态检测装置的电导率测量系统以及涉及接触状态检测方法的电导率测量方法
公开/公告号WO2012008484A1
专利类型
公开/公告日2012-01-19
原文格式PDF
申请/专利权人 NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION SHIZUOKA UNIVERSITY;IWATA FUTOSHI;SHIOMI TOSHIO;SUZUKI KOJI;
申请/专利号WO2011JP65959
申请日2011-07-13
分类号G01B11/16;G01B21/32;G01R31/28;G01V9;G01B5/016;
国家 WO
入库时间 2022-08-21 17:18:17