机译:接触状态检测设备,接触状态检测方法,接触状态检测计算机程序,电导率测量系统包括接触状态检测设备和接触检测方法电导率测量方法,包括
公开/公告号JP5849335B2
专利类型
公开/公告日2016-01-27
原文格式PDF
申请/专利权人 国立大学法人静岡大学;
申请/专利号JP20120524575
申请日2011-07-13
分类号G01B11/16;G01B21/32;G01R31/28;G01V9;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 14:40:42