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Fringe projection system for a probe with intensity modulating element suitable for phase-shift analysis

机译:带有适合于相移分析的强度调制元件的探头的边缘投影系统

摘要

An intensity modulating element for a probe having a plurality of light emitters for phase-shift analysis and measurement is disclosed. The intensity modulating element comprises a plurality of columns of a plurality of grating elements formed by two opposing patterns to project a plurality of fringe sets comprising a structured light pattern.
机译:公开了一种用于具有多个用于相移分析和测量的光发射器的探针的强度调制元件。强度调制元件包括由两个相对的图案形成的多个光栅元件的多列,以投射包括结构光图案的多个条纹组。

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