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APPARATUS AND METHOD FOR THE DETECTION OF FORCES IN THE SUB-MICRONEWTON RANGE

机译:用于检测亚微牛顿范围内力的装置和方法

摘要

A force microscope for the detection of forces in the sub-micronewton range has a measurement head which is used to carry out a relative movement with respect to a sample holder and to which a carrier molecule is attached on which probe molecules are placed.
机译:用于检测亚微牛顿范围内的力的力显微镜具有测量头,该测量头用于相对于样品保持器进行相对运动,并且在其上附着了载有探针分子的载体分子。

著录项

  • 公开/公告号EP2115423B1

    专利类型

  • 公开/公告日2013-11-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TECHNISCHE UNIVERSITAET MUENCHEN;

    申请/专利号EP20080701255

  • 发明设计人 HUGEL THORSTEN;GEISLER MICHAEL;

    申请日2008-01-05

  • 分类号G01N33/543;G01Q30/04;G01Q60/28;G01Q60/42;B82Y35/00;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 16:34:32

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