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Method for testing electronic components , electrical characteristics testing device and the electronic component to do this

机译:电子部件的测试方法,电气特性测试装置以及用于进行此测试的电子部件

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号JP2013170930A5

    专利类型

  • 公开/公告日2014-10-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号JP2012035024

  • 发明设计人

    申请日0000-00-00

  • 分类号G01R1/073;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 16:20:09

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