机译:凹入式检修门线阵列,导电线阵列,凹入式检修门线阵列和导电线阵列,存储器电路,形成凹入式检修门线阵列的方法,形成导电线阵列的方法以及形成导电线的方法凹入式检修门线阵列和导电线阵列
公开/公告号US2015028406A1
专利类型
公开/公告日2015-01-29
原文格式PDF
申请/专利权人 MICRON TECHNOLOGY INC.;
申请/专利号US201313948746
发明设计人 SANH D. TANG;KAMAL M. KARDA;WOLFGANG MUELLER;SOURABH DHIR;ROBERT KERR;SANGMIN HWANG;HAITAO LIU;
申请日2013-07-23
分类号H01L29/423;H01L29/06;H01L27/108;
国家 US
入库时间 2022-08-21 15:22:16