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Defect analysis apparatus, defect analysis system, defect analysis method, and computer-readable recording medium

机译:缺陷分析装置,缺陷分析系统,缺陷分析方法和计算机可读记录介质

摘要

Presence of piping defects is determined with high accuracy. The defect analyzer determines the first frequency band based on the first vibration generated from the first point within a predetermined range from the installation point of the vibration detection unit capable of detecting the vibration generated in the pipe, A frequency determining unit that determines a second frequency band based on second vibrations generated from different second points and determines a leakage frequency band based on the first frequency band and the second frequency band; and vibration in the leakage frequency band And a signal processing unit for determining a defect between the first point and the second point based on the vibration level.
机译:可以高精度地确定管道缺陷的存在。缺陷分析器基于从第一点产生的第一振动来确定第一频带,该第一振动是在从能够检测管​​道中产生的振动的振动检测单元的安装点开始的预定范围内,第二频率确定单元确定第二频率。基于从不同的第二点产生的第二振动的频带,并基于第一频带和第二频带确定泄漏频带;泄漏频带中的振动;以及信号处理单元,用于基于振动水平来确定第一点和第二点之间的缺陷。

著录项

  • 公开/公告号JPWO2016152143A1

    专利类型

  • 公开/公告日2018-01-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日本電気株式会社;

    申请/专利号JP20170507503

  • 发明设计人 冨永 慎;高橋 尚武;三宅 乾太;

    申请日2016-03-22

  • 分类号G01M3/24;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 13:06:34

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