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スタイラス及び表面形状測定装置

机译:测针和表面形状测量装置

摘要

To provide a surface shape measurement device capable of performing a contour shape measurement and a surface roughness measurement without complicating the device.SOLUTION: A measurement unit 10 of a surface shape measurement device 1 includes: a stylus 14; a displacement measurement portion 24 for measuring the displacement of the stylus 14; and a measuring force change portion 26 for changing the measuring force. The stylus 14 includes a first needle 20 and a second needle 22 that project to the sides of a stylus body 18, respectively, and the curvature radius of the tip of the second needle 22 is larger than that of the tip of the first needle 20. The measuring force change portion 26 sets the measuring force to a fine first measuring force when the first needle 20 performs the measurement, or sets the measuring force to a second measuring force larger than the first measuring force when the second needle 22 performs the measurement.SELECTED DRAWING: Figure 2
机译:为了提供一种表面形状测量装置,该表面形状测量装置能够执行轮廓形状测量和表面粗糙度测量而不会使该装置复杂化。解决方案:表面形状测量装置1的测量单元10包括:触控笔14;以及位移测量部分24,用于测量触控笔14的位移。测量力改变部分26,用于改变测量力。触控笔14包括分别向触控笔主体18的侧面突出的第一针20和第二针22,并且第二针22的尖端的曲率半径大于第一针20的尖端的曲率半径。测量力改变部26在第一针20进行测量时将测量力设定为良好的第一测量力,或者在第二针22进行测量时将测量力设定为大于第一测量力的第二测量力。 .SELECTED DRAWING:图2

著录项

  • 公开/公告号JP2019045312A

    专利类型

  • 公开/公告日2019-03-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KOSAKA LABORATORY LTD;

    申请/专利号JP20170168769

  • 发明设计人 小泉 真吾;田中 信章;

    申请日2017-09-01

  • 分类号G01B5/00;G01B5/20;G01B5/28;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 12:23:56

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