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触針式形状測定プローブによる微細形状の測定-微小先端半径を持つスタイラスによる測定

机译:用测针形状测量探针进行精细形状测量-用测头半径小的测针进行测量

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摘要

近年、微細かつ複雑な形状を超精密に測定する必要性が高まっている.著者らはすでに低接触圧の超高精度測定プローブを開発し、機上に搭載して各種測定試験を行い,その精度を検証して来たが、今回さらに微小な形状の測定に対応するために微小先端半径(~2μm)を持つスタイラスを開発し測定実験を行ったところ、測定精度は45度までの傾斜で±0.1μmが確料でき、さらに微細な溝形状の測定も可能であった.
机译:近年来,对精细和复杂形状的超高精度测量的需求不断增长。作者已经开发出了一种具有低接触压力的超高精度测量探头,将其安装在机器上,进行了各种测量测试,并验证了其准确性,但这一次是为了支持更小形状的测量。当我们开发出具有微小尖端半径(〜2μm)的测针并进行测量实验时,我们可以确认在最大45度的倾斜度下测量精度为±0.1μm,并且还可以测量更细的凹槽形状。 ..

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