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ABNORMAL STATE DETECTION DEVICE, ABNORMAL STATE DETECTION METHOD, AND ABNORMAL STATE DETECTION PROGRAM

机译:异常状态检测装置,异常状态检测方法以及异常状态检测程序

摘要

An abnormal state detection device (10) includes: an acquisition unit (103) that acquires an image imaging a device that outputs an abnormal state using an LED (300); an analysis unit (104) that analyzes the abnormal state of the device based on the light emission pattern of the LED (300) in the image, and generates auxiliary information indicating the abnormal state based on the analysis resu and a display control unit (102) that outputs the auxiliary information to a display unit (101).
机译:异常状态检测装置(10)包括:获取单元(103),获取单元(103)对使用LED(300)输出异常状态的装置进行成像。分析单元(104),基于图像中的LED(300)的发光图案来分析设备的异常状态,并基于分析结果生成表示异常状态的辅助信息;显示控制单元(102),其将辅助信息输出到显示单元(101)。

著录项

  • 公开/公告号EP3709170A1

    专利类型

  • 公开/公告日2020-09-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 OMRON CORPORATION;

    申请/专利号EP20180877183

  • 发明设计人 IWAMURA SHINTARO;SHIRANE KAKUTO;

    申请日2018-10-29

  • 分类号G06F11/32;G06F11/07;H04N5/232;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 11:40:43

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