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用参考光纤布拉格光栅监控和测量偏振保持光纤内器件的光学性质的方法及由此制作的光纤部件

摘要

本发明提供一种利用写入到偏振保持(PM)光纤的窄带光纤布拉格光栅(FBG),测量和监控该PM光纤的偏振态(SOP)及类似物的方法。该PM光纤包括第一窄带参考FBG,该第一窄带参考FBG被用作测量和监控PM光纤的SOP的参考。由于PM光纤的双折射性质,参考FBG通常反射两个窄带光谱,一个沿慢轴的窄带光谱和一个沿快轴的窄带光谱,每个窄带光谱具有一个中心波长。通过测量反射光谱沿每个轴的强度,并通过用偏振控制器调节光纤,可以将光纤调节到预定的SOP。在将PM光纤调节到预定SOP之后,可以根据该预定SOP精确测量第二光栅或另一光学器件的光学性质。本发明的方法还可以被有利地用来精确测量反射率。

著录项

  • 公开/公告号CN101479577B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-05-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ITF实验室;

    申请/专利号CN200780019029.2

  • 发明设计人 周长尊;赵云飞;

    申请日2007-05-23

  • 分类号G01J4/00(20060101);C03B37/075(20060101);G01M11/02(20060101);G02B6/024(20060101);

  • 代理机构11257 北京正理专利代理有限公司;

  • 代理人王德桢

  • 地址 加拿大魁北克

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-02-03

    专利权的转移 IPC(主分类):G01J 4/00 登记生效日:20160115 变更前: 变更后: 申请日:20070523

    专利申请权、专利权的转移

  • 2012-05-23

    授权

    授权

  • 2009-09-02

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-07-08

    公开

    公开

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