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用于加工和观测样品的设备以及加工和观测截面的方法

摘要

用于加工和观测样品的设备,包含:样品板,在样品板上要放置样品;第一离子束透镜镜筒,能够同时在整个预定照射范围上照射第一离子束;掩模,能够被设置在样品板和第一离子束透镜镜筒之间,并且遮蔽第一离子束的一部分;掩模移动装置,能够移动掩模;带电粒子束透镜镜筒,能够在第一离子束照射的范围内扫描聚焦的带电粒子束;以及检测装置,能够检测二次生成物质。

著录项

  • 公开/公告号CN101298662B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-02-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 精工电子纳米科技有限公司;

    申请/专利号CN200810095150.X

  • 发明设计人 藤井利昭;高桥春男;田代纯一;

    申请日2008-03-12

  • 分类号C23C14/52(20060101);C23C14/04(20060101);C23C14/54(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人王洪斌;刘宗杰

  • 地址 日本千叶县千叶市

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-08-06

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):C23C 14/52 变更前: 变更后: 申请日:20080312

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2012-02-22

    授权

    授权

  • 2010-04-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):C23C 14/52 申请日:20080312

    实质审查的生效

  • 2008-11-05

    公开

    公开

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