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利用光子束超衍射技术制备半导体T型栅电极的方法

摘要

本发明涉及半导体材料与器件制造领域,具体涉及利用光子束超衍射技术制备半导体T型栅电极的方法,其是在待制备T型栅的样品上面淀积介质钝化层,然后涂覆抗蚀剂,利用光子束超衍射纳米加工技术,在抗蚀剂上曝光,显影,定影,形成栅足图形,再用RIE刻蚀技术,将栅足图形下面的介质钝化层刻蚀,形成沟槽,再利用光子束超衍射纳米加工技术,在光刻胶上曝光,显影,定影,形成栅头图形,蒸发栅极金属,在介质钝化层的沟槽和栅头图形上形成三维T型的金属电极。具有灵活性高,同时精度高、面积大、可重复、低成本和效率高的优点。

著录项

  • 公开/公告号CN102157361B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-03-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN201010605875.6

  • 发明设计人 颜伟;杜彦东;韩伟华;杨富华;

    申请日2010-12-15

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人汤保平

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-02-12

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/28 授权公告日:20120321 终止日期:20121215 申请日:20101215

    专利权的终止

  • 2012-03-21

    授权

    授权

  • 2011-09-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/28 申请日:20101215

    实质审查的生效

  • 2011-08-17

    公开

    公开

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