首页> 中国专利> 获取断层摄影和三维表面图像的X射线计算断层摄影装置

获取断层摄影和三维表面图像的X射线计算断层摄影装置

摘要

本发明涉及一种用于从通过用X射线扫描对象而检测的数据获取图像信息的X射线计算断层摄影装置,更为具体地涉及一种用于获取计算断层摄影的图像和固体表面图像的X射线计算断层摄影装置,其能够通过获取对象的断层摄影信息和对象的表面颜色信息以形成对象的断层摄影的图像和三维表面图像,从而向用户提供可视图像。

著录项

  • 公开/公告号CN101094609B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-01-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 韩国电气研究院;

    申请/专利号CN200580045730.2

  • 申请日2005-11-23

  • 分类号A61B6/03(20060101);

  • 代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人杨生平;朱胜

  • 地址 韩国庆尚南道

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-01-25

    授权

    授权

  • 2008-02-20

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-12-26

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号