首页> 中国专利> X射线荧光设备和用于进行X射线荧光测量的方法

X射线荧光设备和用于进行X射线荧光测量的方法

页面导航

摘要

本发明提供一种X射线荧光(XRF)设备。该XRF设备使用了分析器晶体(6)以及硅漂移检测器(34)。通过采用该组合，可以减轻背景和重叠峰的问题。

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2018-03-09

专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01N 23/223 变更前: 变更后: 申请日:20080403

专利权人的姓名或者名称、地址的变更
2011-11-23

授权

授权
2011-11-23

授权

授权
2010-05-26

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/223 申请日:20080403

实质审查的生效
2010-05-26

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/223 申请日:20080403

实质审查的生效
2008-11-26

公开

公开
2008-11-26

公开

公开

查看全部

1. X射线荧光设备和用于进行X射线荧光测量的方法 [P] . 中国专利： CN101311708B . 2011.11.23
2. 用于利用双能量的X射线透射测量和X射线荧光测量进行热值估计的方法和装置 [P] . 中国专利： CN105612417B . 2019.04.23
3. X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER WITH A PLURALITY OF MEASUREMENT CHANNELS, AND A METHOD FOR PERFORMING X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS [P] . US2021255122A1 . 2021-08-19

机译：具有多个测量通道的X射线荧光分析仪，以及用于进行X射线荧光分析的方法
4. SAMPLE RETAINER FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS, X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING METHOD USING THE SAME AND X-RAY FLUORESENCE SPECTROMETER THEREFORE [P] . IN252633B . 2012-06-01

机译：用于X射线荧光分析的样品保持器，使用相同的X射线荧光光谱仪进行X射线荧光分析的方法
5. SAMPLE RETAINER FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS, X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING METHOD USING THE SAME AND X-RAY FLUORESENCE SPECTROMETER THEREFORE [P] . IN2005DN01026A . 2009-10-02

机译：用于X射线荧光分析的样品保持器，使用相同的X射线荧光光谱仪进行X射线荧光分析的方法