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制造钨线和使用该钨线制造半导体器件栅极的方法

摘要

本发明涉及制造钨线和使用该钨线制造半导体器件栅极的方法。一种用于制造钨(W)线的方法,所述方法包括:形成含硅层,在该含硅层上形成扩散阻挡层,在扩散阻挡层上形成钨层,并且对所述钨层实施热处理工艺以增大钨层的晶粒尺寸。

著录项

  • 公开/公告号CN101339918B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-12-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 海力士半导体有限公司;

    申请/专利号CN200810127642.2

  • 发明设计人 成敏圭;赵兴在;林宽容;

    申请日2008-07-02

  • 分类号

  • 代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘继富

  • 地址 韩国京畿道利川市

  • 入库时间 2022-08-23 09:05:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-08-20

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/768 授权公告日:20101208 终止日期:20130702 申请日:20080702

    专利权的终止

  • 2010-12-08

    授权

    授权

  • 2009-02-25

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-01-07

    公开

    公开

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