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判断多量子阱发光二级管材料中高效量子结构存在的方法

摘要

本发明公开了一种判断多量子阱发光二级管材料中高效量子结构存在的方法。该方法是通过注入电流的变化,利用显微荧光光谱仪的面扫描功能对LED发光表面进行光谱扫描测量,根据测得的显微发光光谱线型的演化来判断这种高效量子结构的存在。本发明方法操作简便,无破坏性;不仅可以明确多量子阱外延层中的量子结构,及时推进生产工艺的改进;还可对其在工作电流下发光效率的高低进行预测,有利于器件产品的应用分级,对于产品升级换代、降低成本和提高生产效率都具有重要意义。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-01-25

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/26 授权公告日:20100825 终止日期:20151207 申请日:20071207

    专利权的终止

  • 2010-08-25

    授权

    授权

  • 2008-08-06

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-06-11

    公开

    公开

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