法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2015-12-23
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/24 授权公告日:20100609 终止日期:20141106 申请日:20081106
专利权的终止
2010-06-09
授权
授权
2009-05-27
实质审查的生效
实质审查的生效
2009-04-01
公开
公开
机译: 用于X射线CT设备的校准和评估的标准量规以及使用用于X射线CT设备的校准和评估的标准量规的X射线CT设备的校准方法和评估方法
机译: 校准厚度和量规校准的薄膜厚度标准
机译: 轮廓仪和扫描探针显微镜的校准标准