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采用维恩位移定律进行光谱测温的方法

摘要

采用维恩位移定律进行光谱测温的方法,它涉及一种测温方法。本发明解决了目前测量物体温度方法的测量精度低、测量范围窄,而且需要标定的问题。本发明方法的步骤如下:被测物体的红外辐射射线经聚光镜汇进入傅立叶分析光谱仪,傅立叶分析光谱仪进行光谱扫描,光谱曲线记录并存入计算机,计算机通过光谱曲线的峰值波长根据维恩位移定律直接计算得到被测物体的温度,最后在显示屏上显示被测物体的温度。本发明方法测量温度的范围为300~3000K。本发明具有测量精度高、测量范围宽的优点,而且测量时不需要标定。

著录项

  • 公开/公告号CN101000264B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-07-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN200710071635.0

  • 发明设计人 戴景民;齐宏;刘晓东;谈和平;

    申请日2007-01-15

  • 分类号

  • 代理机构哈尔滨市松花江专利商标事务所;

  • 代理人韩末洙

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2022-08-23 09:04:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-03-12

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 5/00 授权公告日:20100714 终止日期:20130115 申请日:20070115

    专利权的终止

  • 2010-07-14

    授权

    授权

  • 2007-09-12

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-07-18

    公开

    公开

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