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公开/公告号CN100590420C
专利类型发明授权
公开/公告日2010-02-17
原文格式PDF
申请/专利权人 怀雅特技术公司;
申请/专利号CN200410080545.4
发明设计人 M·I·拉金;
申请日2004-09-28
分类号G01N21/43(20060101);G01N21/41(20060101);
代理机构11245 北京纪凯知识产权代理有限公司;
代理人赵蓉民;路小龙
地址 美国加利福尼亚州
入库时间 2022-08-23 09:04:17
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2010-02-17
授权
2007-01-24
实质审查的生效
2005-06-01
公开
机译: 增强型差示折光仪和用于测量折射率差的测量方法
机译: 差示折光仪可实时测量液体的折射率和衰减系数
机译: 用于测量绝对折射率的装置
机译:利用具有通用光源的零差干涉仪进行棱镜对干涉测量,可高精度测量眼镜的绝对折射率
机译:长距离干涉测量中的空气折射率估计的声学温度计,用于长距离干涉测量空气折射率测量的声温度计
机译:使用基于光腔的生物传感器进行差示检测的折射率测量
机译:集成光学技术,例如反射,干涉测量,散射和荧光;体声和表面声波;和微流体技术,用于测量折射率,粘度,扩散,表面张力,电池性能以及对电池进行分选。
机译:使用折射率匹配流体增强多孔体积微流体捕获元件的光学检测
机译:用于差示折射率测量和生物传感的非对称纳米流体光栅检测器。
机译:用于Euclid近红外光谱仪和光度计的Caf2,suprasil 3001和s-FTm16的温度依赖性折射率测量。