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交流磁化率测量用压力胞及其施压装置和交流磁化率测量系统

摘要

本发明涉及一种单晶材料交流磁化率测量用压力胞、包括上压头、下压头、线圈骨架、初级线圈、两组次级线圈,其中T型截面的上、下压头分别带有圆板形底座和中心伸长部分,王字型线圈骨架中心具有一通孔,其下部与倒置的下压头的中心伸长部分机械配合,上部与上压头的中心伸长部分机械配合,线圈骨架上端与上压头之间套设有弹簧以调节上压头的上下位置,王字型骨架整个外侧套设有初级线圈,初级线圈分别与所述骨架的上下部凹形内侧之间套设有次级线圈,上、下压头分别与线圈骨架可拆卸装配。本发明还提供了利用该压力胞和施压装置对样品施加单轴压力情形下同步进行的变温交流磁化率测量系统,本发明的优点是简单直接、不用压力标定、加压方式简单同时重量轻、体积小、设计简单紧凑。可以测量尺寸非常小的单晶体交流磁化率信号。

著录项

  • 公开/公告号CN100565221C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-12-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院物理研究所;

    申请/专利号CN200710176823.X

  • 发明设计人 K·麦登;余勇;靳常青;

    申请日2007-11-05

  • 分类号G01R15/00(20060101);G01R33/16(20060101);

  • 代理机构11003 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人尹振启

  • 地址 100080 北京市海淀区中关村南三街8号

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-12-18

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 15/00 授权公告日:20091202 终止日期:20121105 申请日:20071105

    专利权的终止

  • 2009-12-02

    授权

    授权

  • 2008-06-11

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-04-16

    公开

    公开

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