首页> 中国专利> 一种采用CPT磁力仪进行弱磁场测量的方法及CPT磁力仪

一种采用CPT磁力仪进行弱磁场测量的方法及CPT磁力仪

摘要

本发明涉及一种采用CPT磁力仪进行弱磁场测量的方法及CPT磁力仪,该CPT磁力仪整体是由电子箱和探头两部分组成,电子箱内包括各种电路控制模块,探头内集成了原子气室,电子箱与探头之间通过光纤进行信号传输;在原子气室气配比确定的情况下,调节激光光功率、激光光束直径、原子气室温度参数压窄EIT信号的线宽,测量相邻EIT信号的频差,可以实现CPT磁力仪的弱磁场测量。本发明压窄EIT信号线宽至700~7000Hz,能够实现100~1000nT弱磁场的测量,拓宽了CPT磁力仪的应用领域,为CPT磁力仪的产品化奠定了基础。

著录项

  • 公开/公告号CN111007443B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-07-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航天控制仪器研究所;

    申请/专利号CN201911195130.4

  • 申请日2019-11-28

  • 分类号G01R33/10(2006.01);G01R33/032(2006.01);G01R33/00(2006.01);

  • 代理机构中国航天科技专利中心 11009;

  • 代理人范晓毅

  • 地址 100854 北京市海淀区北京142信箱403分箱

  • 入库时间 2022-09-06 00:36:09

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献