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动态控制辐射探测器的整形时间的方法和系统

摘要

提供一种计数和标记由辐射探测器接收的辐射能量的方法和系统(50)。将该方法和系统(50)设计成动态控制光子计数探测器(54)的采样窗口或整形时间特性以适应探测器(54)探测的通量的变化,从而保持最佳的探测器性能并且在高通量情况下防止饱和。

著录项

  • 公开/公告号CN100502781C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-06-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 通用电气公司;

    申请/专利号CN200510099881.8

  • 发明设计人 D·M·霍夫曼;J·S·阿伦森;

    申请日2005-09-09

  • 分类号A61B6/00(20060101);A61B6/03(20060101);G01N23/04(20060101);G01T1/00(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人张雪梅;梁永

  • 地址 美国纽约州

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-10-28

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):A61B 6/00 授权公告日:20090624 终止日期:20140909 申请日:20050909

    专利权的终止

  • 2009-06-24

    授权

    授权

  • 2007-11-07

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-05-10

    公开

    公开

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