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一种热电离质谱仪测量铪同位素丰度的方法

摘要

本发明公开了一种热电离质谱仪测量铪同位素丰度的方法,依次包括:第一步、发射剂配制:配制测量所需发射剂,发射剂为碳纳米管混合悬浊液;第二步、样品加载:将样品和发射剂加载在铼带上并烘干,以单带方式安装插件;第三步、样品测量:热电离质谱仪设置为正离子模式,待检测离子为Hf+,样品带温度升至5.5~5.8A,待稳定后测量。本发明显著提高了离子发射效率,增强了离子流信号,提高了测量灵敏度,减弱了分馏效应,延长了信号平稳的时间,提高了测量结果的重复性和准确性。

著录项

  • 公开/公告号CN110596231B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国核动力研究设计院;

    申请/专利号CN201911066635.0

  • 申请日2019-11-04

  • 分类号G01N27/64(20060101);

  • 代理机构51220 成都行之专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人林菲菲

  • 地址 610000 四川省成都市双流区长顺大道一段328号

  • 入库时间 2022-08-23 13:15:05

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