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公开/公告号CN111238644B
专利类型发明专利
公开/公告日2022-02-22
原文格式PDF
申请/专利权人 西安工业大学;
申请/专利号CN202010064113.3
发明设计人 吴银花;王鹏冲;吴慎将;聂亮;张伟光;刘王云;魏儒义;
申请日2020-01-20
分类号G01J3/45(20060101);
代理机构61114 西安新思维专利商标事务所有限公司;
代理人黄秦芳
地址 710032 陕西省西安市未央区学府中路2号
入库时间 2022-08-23 13:09:02
机译: 光谱反射光的色散白光干涉法测量薄膜层厚度的方法
机译: 白光干涉光测量红外探测器光谱响应度的方法
机译: 光谱仪系统和用于补偿光谱仪系统生成的干涉图的周期性时间干扰的方法
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机译:基于干涉图校正的干涉高光谱图像条纹噪声去除方法
机译:高光谱傅里叶变换光谱仪用于白光反射光谱和光谱自干涉荧光显微镜。
机译:白光干涉法探索粘土表面形貌的新方法
机译:使用通道光谱的白光干涉测量法。 2.校准方法,数值和实验结果
机译:用于快照偏振和多光谱成像的白光saGNaC干涉仪