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DFDI仪器干涉光谱的白光干扰去除方法

摘要

本发明涉及一种DFDI仪器干涉光谱的白光干扰去除方法,其能够准确解析干涉条纹的相位信息,并能够准确测量所观测恒星的视向速度。包括以下步骤:步骤1:根据光谱波数范围Δk,确定在波数方向上离散采样点总数N和探测器沿色散方向的采样率kint=Δk/N;步骤2:根据公式(12)确定仪器中固定延迟干涉仪模块的光程差d,选取最大值1/2kint;步骤3:对仪器获取的二维干涉光谱,沿波数方向进行傅里叶变换,将干涉信息转换到频域空间;步骤4:在频域空间,通过利用带通或高通滤波,滤除白光导致的干涉条纹信息S1的±d频率项;步骤5:对经过滤波后的干涉光谱频域信息,再进行傅里叶逆变换,获得由恒星吸收线导致的摩尔条纹S2。

著录项

  • 公开/公告号CN111238644B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安工业大学;

    申请/专利号CN202010064113.3

  • 申请日2020-01-20

  • 分类号G01J3/45(20060101);

  • 代理机构61114 西安新思维专利商标事务所有限公司;

  • 代理人黄秦芳

  • 地址 710032 陕西省西安市未央区学府中路2号

  • 入库时间 2022-08-23 13:09:02

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