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批改模型训练方法、批改方法、装置、电子设备和介质

摘要

本公开涉及一种批改模型训练方法、批改方法、装置、电子设备和介质;其中,候选批改模型包括第一分支和第二分支,该方法包括:将训练样本中的作答图像和训练样本中的题目描述字符串输入候选批改模型的第一分支,得到第一图像特征;基于候选批改模型的第二分支,根据第一图像特征和训练样本中的答案描述字符串,获得预测结果;基于预设损失函数,根据预测结果对第一分支和第二分支进行训练,获得训练后的目标批改模型。本公开实施例能够有效实现对作图题的作答图像的准确批改。

著录项

  • 公开/公告号CN113722466B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京世纪好未来教育科技有限公司;

    申请/专利号CN202111295902.9

  • 发明设计人 刘军;秦勇;

    申请日2021-11-03

  • 分类号G06F16/332(20190101);G06F16/33(20190101);G06F16/58(20190101);G06F40/258(20200101);G06F40/30(20200101);G06N3/04(20060101);G06N3/08(20060101);

  • 代理机构11710 北京开阳星知识产权代理有限公司;

  • 代理人唐博

  • 地址 100089 北京市海淀区中关村大街32号蓝天和盛大厦1702-03室

  • 入库时间 2022-08-23 13:06:38

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